Journal of Vacuum Science & Technology B Microelectronics and Nanometer Structures Processing Measurement and Phenomena
American Institute of Physics · US · Q4
Kısaca
Journal of Vacuum Science & Technology B Microelectronics and Nanometer Structures Processing Measurement and Phenomena, Mühendislik alanında abonelik bir dergidir, American Institute of Physics tarafından yayımlanır. Tahmini indeks: Scopus (Q4). Bu sayfadaki indeks bilgisi heuristik bir tahmindir; kesin bilgi için kaynaktan doğrulayın.
Künye
ISSN
1071-1023
Yayıncı
American Institute of Physics
Ülke
US
Disiplin
Mühendislik · Fizik ve Astronomi
Erişim
Abonelik
Tahmini indeks
Scopus (Q4) (tahmini)
Metrikler
H-index
141
Makale sayısı
11784
Metrikler OpenAlex/Crossref kaynaklı yaklaşık değerlerdir.
Kapsam ve uygunluk
Journal of Vacuum Science & Technology B Microelectronics and Nanometer Structures Processing Measurement and Phenomena, başlıca Mühendislik (özellikle Fizik ve Astronomi) alanındaki çalışmaları değerlendirir. İlgili alanlar: Engineering; Materials Science; Physics and Astronomy. Makalenizin bu dergiye uygunluğu kapsam, disiplin ve dil örtüşmesine bağlıdır. Yanlış kapsamlı bir gönderim, dergi prestijli olsa bile desk reject ile sonuçlanabilir.
Sıkça Sorulan Sorular
Journal of Vacuum Science & Technology B Microelectronics and Nanometer Structures Processing Measurement and Phenomena hangi indekste yer alıyor?
Journal of Vacuum Science & Technology B Microelectronics and Nanometer Structures Processing Measurement and Phenomena açık erişim mi?
Erişim tipi: Abonelik. Güncel APC ve erişim bilgisini derginin resmi sayfasından doğrulayın.
Journal of Vacuum Science & Technology B Microelectronics and Nanometer Structures Processing Measurement and Phenomena güvenilir mi?
Bir derginin güvenilirliğini DOAJ, Scopus ve Web of Science'ta dizinli olup olmadığını kontrol ederek doğrulayın. Yağmacı dergi kontrol listesine de bakabilirsiniz.